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中・長距離から広い範囲を高速に距離測定できる
「高速同軸レーザ変位センサ HL-H1シリーズ」を発売開始

2010年1月13日

SUNX株式会社(本社 愛知県春日井市 社長 吉村元)は、中・長距離から広い範囲を高速に距離測定できる「高速同軸レーザ変位センサ HL-H1シリーズ」を発売開始いたしました。

■開発の背景

高速同軸レーザ変位センサ HL-H1シリーズ」は、ワークへ照射するレーザ光とワークからの反射光が同一の光路軸となる同軸測距方式の変位センサです。コノスコピック原理を応用し、ホログラフィ方式の考え方を取り入れた新しい検出方式の採用により、測定距離の長距離化と広い測定範囲を実現しました。

小さな穴の深さや狭い隙間奥の位置測定、半球体など角度のある形状の測定など、これまでの変位センサでは難しかったアプリケーションにも高速・高精度に対応できます。

■主な特長
  1. 変位幅の大きなワークを遠くから測定可能
  2. 最大3kHzで高速サンプリングが可能な同軸変位
  3. 測定形状のモニタリングや簡単に機能設定ができる専用ソフトを付属
■主な仕様、価格
種類 拡散反射タイプ
型式名 HL-H104B HL-H107B HL-H115B
測定中心距離
44.0mm
69.0mm
148.5mm
測定範囲
±4mm
±9mm
±35mm
分解能[平均回数](注1)
0.25μm [32回]
0.5μm [32回]
2.5μm [32回]
直線性
±0.3%F.S.
光源
可視半導体レーザ(発光ピーク波長655nm、1mWmax、JIS/IECクラス2)
ビーム径(注2)
約26μm×94μm
約38μm×160μm
約85μm×450μm
サンプリング周期
333μs〜10ms
標準価格 <税別>
オープン価格

指定なき測定条件は、インターフェイスBoxと接続し、電源電圧:12V DC、周囲温度:20℃、サンプリング周期:500μs(HL-H115Bは1000μs)、平均回数:1回、測定中心距離、測定対象物:SUS、受光量:約9000digitとします。

(注1):付属ソフトのHL-H1SMI、またはHL-H1専用APIにて平均回数設定時
(注2):測定中心距離における大きさです。中心光強度の半値幅で定義されています。


■特長

  1. 変位幅の大きなワークを遠くから測定可能
    例えばHL-H115Bを使用すれば、50mmもの段差のあるワーク形状を100mm以上離れたところからでも測定可能です。
    『長距離&広範囲をカバー』できる変位センサとしてさまざまなアプリケーションに対応できるように、「44±4mm」「69±9mm」「148.5±35mm」と測定中心距離および測定範囲の異なる3機種をラインアップいたしました。
  2. 最大3kHzで高速サンプリングが可能な同軸変位
    狭い箇所や角度のある形状など、同軸変位センサが得意とする比較的難しい測定はオフラインで行われることが多かったのですが、HL-H1はインライン化を可能とする高速性を実現しました。
  3. 測定形状のモニタリングや簡単に機能設定ができる専用ソフトを付属
    付属の専用ソフトHL-H1SMIは、バッファリング機能により蓄積された測定値や受光量の波形表示(モニタリング)や各種条件の設定を簡単にでき、使いやすい操作性と機能を提供します。
■アプリケーション例
放熱フィンの形状測定、ネジ穴深さの測定
■商品外観
高速同軸レーザ変位センサ HL-H1シリーズ
■この商品に関する詳しい情報は

以上

【ご注意】

ニュースリリースに記載された情報は、発表日現在のものです。その後予告なしに変更されることがありますので、あらかじめご了承ください。

 
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